在光澤體或透明體等高難度外觀檢查中展現優勢

C.C.S.株式會社(總公司:京都市上京區，代表取締役社長 大西浩之)於今日發售可對光澤體或透明物體等高難度缺陷檢測展現優勢的「二軸相位偏移照明」。

以往的檢查用照明，在檢查具有光澤或透明的物體時，由於表面容易產生光線反射或透過，導致不必要的影像容易映入，因此難以拍攝出表面平坦處與形狀變異處的差異，導致難以檢測出物體的缺陷。

C.C.S.將發售此款名為「二軸相位偏移照明」的LED照明，透過全新的方法實現對這些高難度檢查的缺陷檢測。

此「二軸相位偏移照明」透過向檢查對象物投影縱向條紋4種與橫向條紋4種共計8種圖像，並對這些圖像進行「相位偏移法(※1)」的圖像處理，從而實現高難度缺陷的檢測。

根據檢查速度，條紋圖案可進行高速點燈切換(※2)。此外，可根據檢查對象物的大小及缺陷種類，調整條紋圖案的寬度、數量及發光面尺寸，可廣泛應用於各種檢查。不僅如此，還支援使用區域相機以及線掃描相機進行圖像處理檢查。

※1 將每90度相位偏移的正弦波條紋投影至對象物，利用條紋的紊亂所計算出的資訊來檢測缺陷的方法。

※2 可設定的點燈速度最高為500 kHz。

系統構成範例(使用線掃描相機時)

產品特點

1. 可進行縱向與橫向條紋圖案的點燈控制

透過本公司獨自的光學設計，可設定發光面的條紋寬度及數量等。

照射影像

縱向條紋圖案橫向條紋圖案

運用「相位偏移法」的圖像處理影像

2. 發光面尺寸可從11種類型中選擇

透過組合發光面面板，我們提供11種類型的發光面尺寸，可根據檢查對象物及使用環境進行選擇。

發光面尺寸範例1

型號:LDF-903X122SW-FNDX

發光面面板8片×1列

發光面尺寸903 × 122 mm

發光面尺寸範例2

型號:LDF-455X234SW-FNDX

發光面面板4片×2列

發光面尺寸455 × 234 mm

關於C.C.S.株式會社

C.C.S.自1993年在京都創立以來，作為檢查用LED照明製造商，一直作為檢查用LED照明的領導企業，透過開發新型照明並巧妙運用其方法，提供以提升檢查精確度的技術「照明解決方案」為基礎的提案給各行業的客戶。近年來，透過與各種相機製造商、鏡頭製造商、軟體供應商等合作，積極提供更廣泛的解決方案，以應對客戶在「檢查流程」中所面臨的新課題與需求。

◇ 關於C.C.S.的詳細資訊，請瀏覽本公司網站:https://www.ccs-inc.co.jp/