新栄電子計測器株式会社(本社:神奈川県藤沢市、代表取締役:久保田 和磨)は、コンデンサの温度特性評価向けシステム「F-300」を発売いたしました。
「F-300」は、任意の温度環境下において被測定物(DUT)の等価直列抵抗(ESR)、損失係数(tanδ)、静電容量(C)、インピーダンス(Z)等をLCRメーターによって測定し、周波数特性を評価するシステムです。新栄独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより、従来必要だった大量のケーブル配線を大幅に削減し、設置や移動などのメンテナンス性を向上させました。
独自開発のLCRマルチスキャンシステムで配線本数を大幅削減
主要指標 — KEY FIGURES
従来の装置では、LCRマルチスキャンシステムとDUT接続治具の間をチャネル数×4本のケーブルで接続する必要があり、ケーブル本数が数百本にのぼることも珍しくありませんでした。
F-300では、専用の恒温槽を用い、恒温槽内部のDUT接続治具と外部のLCRマルチスキャンシステムを直接中継基板で接続することにより、ケーブル配線を大幅に削減し、作業性とメンテナンス性を向上させました。(※インピーダンス整合については別途ご相談ください。)
任意の温度環境下でコンデンサの周波数特性を評価
恒温槽内にDUTを設置し、任意の温度環境下でLCRメーターによる測定が可能。ESR、tanδ、C、Z等、コンデンサの温度特性評価に必要な各パラメータの周波数特性を評価できます。
柔軟なカスタマイズ・リプレースに対応
お客様のご要望にあわせて、恒温槽および本システムを操作するアプリケーション(別途開発)をご用意いたします。現行システムからのリプレースや、機能の追加・変更についても柔軟に対応いたします。
主な特長
独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより配線本数を大幅削減
設置・移動などのメンテナンス性が向上
ESR・tanδ・C・Z等の周波数特性評価に対応
恒温槽を用いた任意の温度環境下での評価が可能
操作アプリケーションのカスタム開発に対応
現行システムからのリプレース、機能追加・変更に柔軟対応
主な仕様
項目
内容
測定対象
コンデンサ(DUT)の温度特性
測定項目
等価直列抵抗(ESR)、損失係数(tanδ)、静電容量(C)、インピーダンス(Z)等
評価内容
LCRメーターによる周波数特性評価
温度条件
恒温槽による任意の温度環境下での測定に対応
配線方式
中継基板接続によるLCRマルチスキャンシステム~DUT接続治具間の配線大幅削減
構成
PC、LCRメーター、LCRマルチスキャンシステム、恒温槽
カスタマイズ
恒温槽・操作アプリケーション(別途開発)、現行システムからのリプレース対応
お問い合わせ先
新栄電子計測器株式会社 〒252-0816 神奈川県藤沢市遠藤2636 TEL: 0466-88-3030 MAIL: [email protected]
関連URL
新栄電子計測器ホームページ
https://shin-ei.ne.jp/
FACT BOX ・ 要点整理
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