日本電子的電子顯微鏡獲認定為顯微鏡遺產

日本電子股份有限公司（總部：東京都昭島市，代表取締役社長兼CEO：大井泉）所開發的掃描式電子顯微鏡JSM-1型（1966年完成）與JSM-2型（1967年完成），已獲公益財團法人日本顯微鏡學會認定為第三屆「顯微鏡遺產」。

「顯微鏡遺產」是日本顯微鏡學會為紀念2024年創立75週年，特別設立的認證制度，旨在將對顯微鏡學發展有重大貢獻的里程碑式技術與產品，作為文化遺產傳承後世。

認定名稱

顯微鏡遺產認定第25號

日本掃描式電子顯微鏡開發的先驅：JSM-1型／JSM-2型

右圖：日本顯微鏡學會陣內會長

認定理由

日本電子於1966年推出日本國產首台商品化掃描式電子顯微鏡（SEM）JSM-1型，僅比全球首台商品化SEM——Cambridge Scientific Instruments公司製StereoScan晚約半年。JSM-1型具備50奈米的解析度，採用Everhart-Thornley（ET）檢測器偵測二次電子，並以半導體檢測器偵測反射電子，還可觀察電子束感生電流（EBIC）影像。其結構已具備現代SEM的雛形，展現當時開發團隊的高遠志向。1967年，日本電子進一步推出JSM-2型，將解析度由50奈米提升至25奈米，以因應微細結構觀察需求。JSM-2型更擴充功能，可觀察穿透電子影像、陰極發光影像與X射線影像，搭配解析度提升的相乘效應，廣泛應用於當時最先進的研究領域，以及材料、半導體、生技等產業的研發部門。日本電子憑藉JSM-1型確立了當時SEM技術的領先地位，並透過JSM-2型展現不懈的探索精神，大幅提升了日本的產業競爭力。JSM-1型與JSM-2型在當時堪稱全球最優秀的SEM，銷售遍及國內外。在海外先進國家普遍認為「日本產品便宜且品質低劣」的時代，此成就具有劃時代意義，可謂開啟日本作為工業強國揚名國際的起點。

JSM-1型與JSM-2型

相關資訊

當年參與JSM-1型與JSM-2型開發的紀本靜雄先生、橋本寬先生、佐藤正幸先生、江口英郎先生等四位工程師，於1971年獲頒日本顯微鏡學會第16屆瀨藤獎。

公益財團法人日本顯微鏡學會學會獎（瀨藤獎）得獎者及題目一覽

日本電子於2024年亦曾因「磁場型電子顯微鏡DA-1型」（1947年完成）與「超級顯微鏡JEM-50B型」（1969年完成）獲日本顯微鏡學會認定為「顯微鏡遺產」。

兩台電子顯微鏡獲日本顯微鏡學會「顯微鏡遺產」認證