熊本大學與 JASRI 等團隊開發出 DPDM 技術並整合至 SPring-8 的 μSX-ARPES 系統。該技術利用深度學習在 30 秒內去除數據格點雜訊,使特定物質的測量時間從 2700 秒大幅縮短至 70 秒,縮減比例達 90% 以上。此舉克服了軟 X 線分光耗時的技術瓶頸,為超高解析度的三維電子結構觀測開闢新途徑。

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  • 來源:PR TIMES
  • 分類:其他
  • 相關組織:国立大学法人熊本大学 / 電気通信大学