タカノ株式會社（總部：長野縣上伊那郡宮田村，代表取締役社長：鷹野 雅央）將參加於2026年6月10日（週三）至12日（週五）在東京國際展示場（Tokyo Big Sight）舉辦的「JPCA Show 2026」。

本次展出將以ALTAX（全面高度檢測裝置）為核心，展出用於封裝基板、玻璃基板及晶圓製造製程的檢測設備。

特別是針對備受矚目的玻璃芯基板及光電融合等下一代技術，公司提供了相應的檢測設備陣容，以滿足客戶廣泛的需求。

「JPCA Show 2026」展會概要 日期：2026年6月10日（週三）至12日（週五） 時間：10:00～17:00（最後一日至16:00止） 地點：東京國際展示場 東展示棟 主辦單位：RX Japan株式會社 攤位號碼：3F-42

官方網站：https://www.jpcashow.com/show2026/ 參觀者預先登記：https://f-vr.jp/jpca/jpca2026/

展出產品資訊： 1. 2D/3D外觀檢測裝置 ALTAX-FS【面板展示】 適用於玻璃、晶圓、PKG基板等，可進行全面性檢測。

2. 晶圓專用全面高度檢測裝置 ALTAX-300EX【面板展示】 支援微凸塊（micro-bump）的先進最新機型。

其他產品： ・晶圓外觀檢測裝置（Vi系列）：高精度檢測配線圖案、裂紋及異物污染等。 ・晶圓表面檢測裝置（WM+系列）：支援奈米級顆粒（異物）檢測的最新機型。 ・全面膜厚不均檢測裝置（Thinspector）：透過單次掃描即可實現全面檢測。 ・薄膜外觀檢測裝置（Hawkeyes系列）

FACT BOX · 重點整理

  • 來源：PR TIMES
  • 分類：活動
  • 相關組織：RX Japan株式会社
  • 原文日期：2026年6月10日（水）～12日（金）
  • 產品、服務：Thinspector